広い範囲の測定用システム
光学式表面プロファイラ
生産管理などの厳しい環境、または研究室において、精密製品の表面を測定する場合、白色光干渉計は、理想的なソリューションです。
TopMap Micro.View
TopMap Micro.View は、操作性に優れたコンパクトな卓上型光学式形状測定器です。製造や研究の分野において、高い精度で設計された表面の粗さや微細構造などの詳細を検査するコストパフォーマンスに優れた品質を管理するための測定器です。
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View +は、モジュール式設計のあらたな次元の光学式三次元形状測定器あり、表面仕上げと微細構造に関する最も困難な分析タスクを最高の精度で確実に測定します。最新のフォーカスファインダおよびフォーカストラッカを備えており、あらゆる状況で表面にフォーカスを合わせます。完全に電動化されたサンプル位置決めステージにより、スティッチングおよび自動化を実現します。
TopMap Pro.Surf
迅速かつ正確な3D表面の特性評価に最適です。広い測定範囲と短い測定時間が特長です。
TopMap Pro.Surf+
最新のオールインワンシステム。白色光干渉計にクロマティック共焦点センサを搭載することにより、形状偏差と粗さを一つのシステムによって測定できます。Pro.Surf+は広範な面積の表面形状のナノメートル分解能測定を実現します。
TopMap In.Line
異なる反射条件の面の測定が可能です。コンパクト設計のため生産ラインに容易に組み込むことができます。チェックを行って意味します。段差、大きなリップルなどさまざまな表面構造であっても測定できます。
TopMap Metro.Lab
Metro.Labは、非接触表面形状測定システムのエントリモデルです。広い範囲の面の表面形状を測定することができます。
TopMap QC パッケージ
品質管理（QC）用のまったく新しいスマート機能パッケージが、TopMap 光学式三次元形状計測器シリーズで利用できるようになりました。TopMap QCパッケージは、特に厳しい生産環境での表面検査をサポートしています。