レーザドップラ振動計による高周波デバイスの動作テスト

今日、マイクロサイズのセンサ、アクチュエータ、コンポーネントの多くが、MHzやGHzという高い周波数領域で振動しています。これらはたとえば、車載デバイスの位置センサや情報発信機器、医療用イメージングに使用されている超音波センサやトランスデューサにおいて使用されています。これらのコンポーネントの機能をテストするには、既存のシミュレーションモデルをチェックし、デバイスの設計を最適化するために、動的挙動を測定する必要があります。

レーザドップラ振動計はこれらに対する一つのソリューションとなりえます。MHz、GHzの高周波数帯域の振動モードを可視化することができ、振動特性を非接触で測定することができます。また、デバイス単体だけではなく、アレイ内のクロストークを測定し、グラフ化することもできます。過渡現象や減衰についても簡単に可視化することができます。また、測定時間が非常にスピーディなため、開発プロセスにおける計測工程の時間短縮につながり、大きな利点となります。

さらに、レーザドップラ振動計は光学計測機器なので、ガラスや透明なケースなど、光を透過する物質越しの測定も可能です。よって水中や、真空中の測定物も計測できます。ポリテックのレーザドップラ振動計ラインナップでは、最大2.5 GHzの高周波数帯域の振動を簡単かつ高精度に測定できます。超音波を使って3次元音場を解析するアプリケーションでは、ポリテックのスキャニング振動計の測定結果とシミュレーション結果によって、従来よりも、簡単かつスピーディに音場を解析することができます。

ギガヘルツ領域の面全体の振動測定

最大2.4GHzの高周波で振動するサンプルの挙動を、比較的簡単かつ高精度に測定します。測定時間が短く、エリア全体を一度にスキャンできることは、この測定方法の大きな利点であり、最終的には特に開発プロセスを改善します。室内に設置したノイズセンサーを使って3次元音場を測定する代わりに、1回または複数回のスキャン測定とそれに続くシミュレーションだけで、結果としての音場を決定することができます。

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