Inspecciones automatizadas de superficies con un tamaño reducido

Optimizar la rugosidad, la textura y la microestructura

El perfilómetro de superficies compacto de sobremesa se ha sometido a una importante mejora de la plataforma, lo que permite realizar ensayos automatizados de rugosidad de superficie y microestructura en campos más amplios gracias a la nueva mesa motorizada XY de 100 mm con función de inclinación y giro.

Polytec Amplía su línea de perfilómetros de superficies « Micro.View » con una nueva mesa motorizada, que cuenta con una traslación lateral de 100 mm y capacidad motorizada de inclinación y giro: el manejo de muestras más grandes y la ampliación del área de medición con el sistema « True Stitching » nunca ha sido tan sencillo y reproducible en una configuración de sobremesa.

La plataforma XY de 100 mm convierte los modelos compactos de la línea de productos « TopMap » en una estación completa de ensayo de superficies para inspecciones automatizadas en 2D y 3D de rugosidad, textura, acabado, microestructuras, arañazos y defectos, o parámetros de forma resueltos a un nivel inferior al nanómetro.

La configuración compacta de este interferómetro de luz blanca aprovecha todo el recorrido lateral de 100 mm, mientras que los algoritmos de True Stitching garantizan un muestreo fluido para obtener datos fiables incluso en los bordes más allá del Campo de visión.

Gracias a la mayor velocidad de inclinación y a los avanzados algoritmos « Focus Finder » y « Focus Tracker », además del autocentrado, este medidor óptico de rugosidad ofrece una precisión de repetición, lo que profesionaliza y agiliza cualquier laboratorio de ensayos y Control de calidad.

Los usuarios pueden elegir entre varios objetivos de 2,5x, 10x... 111x, incluidas opciones de baja reflexión y campo claro. En particular, la exclusiva lente de 0,6x amplía las capacidades de ensayo, pasando de la topografía microscópica clásica a mediciones topográficas de formas y topografía de mayor tamaño, con un Campo de visión ampliado a 15,53 x 11,71 mm².

Con la nueva platina de muestras, el TopMap Micro.View se convierte en la solución ideal para medir superficies más grandes con mayor rapidez. Abarca mecánica de precisión o electrónica del tamaño de una oblea de 4", permite analizar matrices de microsistemas o automatizar mediciones en bandejas para inspecciones de múltiples muestras.

www.Polytec.com/TopMap

El perfilómetro compacto Micro.View proporciona datos de topografía de alta resolución y ahora también permite el posicionamiento automático, lo que permite cubrir áreas más amplias con mayor rapidez y realizar el ensamblaje de imágenes de forma fiable.
Inspección óptica de la rugosidad de superficie, los recubrimientos o los acabados: ahora, el perfilómetro de sobremesa compacto Micro.View puede ampliarse para realizar mediciones automatizadas gracias a un sistema de posicionamiento XY ampliado de 100 mm.

Especificaciones técnicas

Plataforma XY
Rango XY100 x 100 mm²
Velocidad máxima en XY10 mm/s
Módulo de inclinación de la punta
Ángulo máximo de inclinación de la punta±2,5° motorizado
Peso máximo de la muestra5 kg
Velocidad máxima de inclinación2,5 °/s
Resolución angular0,02 segundos de arco
Opciones de software complementarias
  • Focus Finder o avanzado para la identificación automática del punto de enfoque ideal en un amplio Rango Z
  • Focus Tracker para el reajuste automático del punto de enfoque ideal durante la traslación XY
  • True Stitching para combinar de forma fiable adquisiciones individuales en un conjunto de datos topográficos más amplio

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