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PLC

PolytecLa experiencia de la empresa abarca todos los sectores: desde el aeroespacial, el biomédico, la nanotecnología o la ingeniería mecánica, la tecnología de medición de Poyltec ayuda a las empresas a mantener y ampliar su liderazgo tecnológico. Siempre que es necesario medir procesos de producción, productos o procedimientos delicados, los usuarios confían en nuestras tecnologías ópticas.

Visite el stand de Polytec en la feria PLC 2025 para descubrir las últimas innovaciones en vibrometría láser Doppler para la medición de vibraciones sin contacto en el ámbito de la investigación y la industria.

PolytecÁmbitos tecnológicos

  • Vibrometría: medición óptica y sin contacto de vibraciones, acústica y dinámica
  • Velocimetría: medición con precisión láser de la longitud y la velocidad en procesos de producción
  • Tecnología de medición de superficies 3D: caracterización sin contacto de la topografía de la pieza de trabajo, los parámetros de forma y los detalles estructurales
  • Análisis de procesos: Control de calidad inline y optimización del proceso mediante el análisis de ingredientes
  • En el ámbito de la distribución de tecnología de medición óptica, la atención se centra en los sensores ópticos de fibra óptica. Esto implica la medición de temperatura, deformación, aceleración y presión en una amplia variedad de aplicaciones. Desde sensores de un solo punto hasta perfiles de medición continuos a lo largo de cientos de metros o kilómetros.

PolytecGama de servicios

  • Pruebas de vibración al final de la vida útil (EOL), Control de calidad vibroacústico y pruebas al 100 %, mediciones sin contacto y fiables para tomar decisiones claras de «aprobado/rechazado»IVS-500 Vibrómetro industrial
  • Supervisión de estado rápida y sencilla mediante un Sensor láser portátil de vibracionesVibroGo
  • Fácil integración del sensor en entornos de producción para Medición sin contactoVibroOne
  • Pruebas en serie y por lotes mediante Vibrometría de escaneo de Full-field en el entorno de producciónPSV Vibrómetro de escaneo
  • Caracterización óptica de la dinámica, el rendimiento y la topografía de microsistemas y MEMS
    MSA Micro System Analyzer
  • Medición topográfica 3D de alta resolución tanto de los parámetros de forma como de la rugosidadTopMap

Puede encontrar más información aquí.