Para evaluar la calidad en la producción, los productos semiacabados y sus superficies suelen caracterizarse en función de parámetros de forma, acabado o rugosidad. Esto proporciona información sobre las etapas de fabricación previas, especialmente en el mecanizado o el procesamiento mecánico, garantizando la precisión dimensional y funcional. Polytec ha desarrollado ahora su propio aumento de 0,6X para la línea de perfilómetros de superficies « TopMap », tendiendo así un puente entre la topografía microscópica y la macroscópica
TopMap Los interferómetros de luz blanca de Polytec inspeccionan superficies en áreas extensas mediante interferometría de barrido de coherencia. En otras palabras, escanean áreas completas sin contacto y resuelven incluso microestructuras o texturas muy finas con una resolución en la dirección z inferior al rango de los nm, si es necesario. En el control de calidad cotidiano, suelen ser relevantes varios parámetros, como la planicidad de una superficie sellada, el cumplimiento de la altura exacta de escaló de una zona adyacente y una rugosidad mínima requerida para una lubricación adecuada. En lugar de utilizar un enfoque multisensor o un laborioso proceso de unión de imágenes para el análisis de grandes áreas de la forma y los detalles de alta resolución, Polytec cierra ahora esta brecha con un aumento exclusivo de 0,6X.
El sistema de microscopio modular TopMap Micro.View+ ya ofrece enfoque automático y seguimiento automático del enfoque, así como un Revólver motorizado —anteriormente con aumentos de 2,5X a 111X— para un análisis de topografía fluido y sin interrupciones. Equipado con el nuevo objetivo de 0,6X, el campo de visión único se amplía hasta 15,53 x 11,71 mm². Esto significa que no solo captura la rugosidad y los detalles estructurales con una precisión milimétrica, sino que también mide la planicidad o la forma en áreas más amplias para realizar inspecciones más rápidas y eficientes. Con una distancia de trabajo de 9,2 mm, ofrece una separación entre puntos de medición de 9,76 µm.
¿Desea resolver detalles estructurales finos sin dejar de cubrir un amplio Campo de visión? ¡Póngase en contacto con Polytec!
Visite el sitio web
https://www.Polytec.com/int/Tecnología de medición de superficies/productos/perfilómetros de superficies/TopMap-microview