パンフレット製造のための表面メトロロジー

マイクロ/サブマイクロサイズの金属製品の表面品質は製品寿命において重要です。原材料の生産段階で特に機能面における公差の遵守されれば、それ以降の生産品の信頼性と耐久性を確保することができます。

マイクロ/ナノメートル分解能を有するポリテックの非接触表面測定システムは、まさにこのために最適であり、優れた再現性を持つ測定結果を得ることができます。TopSensを使用して2Dの粗さパラメータを、TopMapを使用して3Dの平坦度、リップル、平行度パラメータを測定して形状偏差を検出することができます。2D データはDIN ISO 4287 / 4288に準拠、3DデータはDIN ISO 25178に準拠しています。

Brochure surface anaylsis with whitelight-interferometry