生産ラインにおけるすばやい表面分析

サイクルタイムに大きな影響を与える厳しい生産工程においてTopMap In.Lineは品質保証の要求に応えた正確な測定を迅速に実行できる理想的なシステムです。

概要

最新の高速センシング技術により短いサイクルタイム内の測定が可能

わずか数ナノメートルの高精度z軸分解能

高い再現性により公差を確実に測定

堅牢で頻繁なメンテナンスが不要

フルフィールドの面測定データのため重要な表面情報を一切見落としません

反射の強い面、弱い面に関わらず測定可能

非接触測定のため測定面を傷つけませんi

QS-STAT™などとインタフェースを統合

Surface metrology for in-line quality assurance

TopMap In.Line はコンパクト設計であるため、生産ラインに簡単に統合することができます。製品の検査を短いサイクル時間内に確実に実行し、平坦度やリップルなどの形状偏差をします。穴の内部や段差も測定できます。

リモートで制御可能なソフトウェアは、オープン ソフトウェア アーキテクチャを採用しており、ルーチンタスクやユーザ独自のインタフェースを簡単にプログラミングでき、プロセスワークフローの自動化も可能です。例えばQS-STAT™と統合すればてプロセスデータを分析することもできます。

Optical surface metrology - see more details

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