Surface metrology products - TopMap In.Line TMS-350

概要

最新の高速センシング技術により短いサイクルタイム内の測定が可能

わずか数ナノメートルの高精度z軸分解能

高い再現性により公差を確実に測定

堅牢で頻繁なメンテナンスが不要

フルフィールドの面測定データのため重要な表面情報を一切見落としません

反射の強い面、弱い面に関わらず測定可能

非接触測定のため測定面を傷つけませんi

QS-STAT™などとインタフェースを統合

TopMap In.Line optical surface profiler for fast in-line inspections

TopMap In.Line for surface inspections in automated processes

TopMap In.Line surface metrology for production environments

TopMap In.Line optical surface profiler for fast in-line inspections

TopMap In.Line for surface inspections in automated processes

TopMap In.Line surface metrology for production environments

TopMap In.Line はコンパクト設計であるため、生産ラインに簡単に統合することができます。製品の検査を短いサイクル時間内に確実に実行し、平坦度やリップルなどの形状偏差をします。穴の内部や段差も測定できます。

リモートで制御可能なソフトウェアは、オープンソフトウェアアーキテクチャを採用しており、ルーチンタスクやユーザ独自のインタフェースを簡単にプログラミングでき、プロセスワークフローの自動化も可能です。例えばQS-STAT™と統合すればてプロセスデータを分析することもできます。