広い範囲の測定用システム

生産管理などの厳しい環境、または研究室において、精密製品の表面を測定する場合、白色光干渉計は、理想的なソリューションです。

TopMap Micro.View+

TopMap Micro.View+ is the next generation optical surface profiler in a modular design to reliably measure the most challenging analysis tasks regarding surface finish and microstructures with utmost precision. Focus Finder and Focus Tracker assist in keeping samples focused at all times, with fully motorized positioning units ready for automation. Find out more!

TopMap Micro.View

TopMap Micro.View is an easy to use and compact optical profiler. Choose Micro.View as the cost-effective quality control solution for surface analysis of precision-engineering, for inspecting roughness, microstructures and more surface details.

TopMap Pro.Surf+

最新のオールインワンシステム。白色光干渉計にクロマティック共焦点センサを搭載することにより、形状偏差と粗さを一つのシステムによって測定できます。Pro.Surf+は広範な面積の表面形状のナノメートル分解能測定を実現します。

TopMap Pro.Surf

迅速かつ正確な3D表面の特性評価に最適です。広い測定範囲と短い測定時間が特長です。

TopMap In.Line

異なる反射条件の面の測定が可能です。コンパクト設計のため生産ラインに容易に組み込むことができます。チェックを行って意味します。段差、大きなリップルなどさまざまな表面構造であっても測定できます。

TopMap Metro.Lab

Metro.Labは、非接触表面形状測定システムのエントリモデルです。広い範囲の面の表面形状を測定することができます。

TopMap QC Package

A whole new package of smart features for quality control (QC) tasks are now available for the TopMap 3D surface profiling systems - the TopMap QC Package supports surface inspections especially in challenging production environments.