現行バージョン

測定・評価が簡単かつスピーディに

測定・評価が簡単かつスピーディに

ポリテックの白色干渉計システム TMS 表面形状計測システムの 専用ソフトウェア TMS software の 最新バージョンは、より簡単に、よりスピーディに測定結果を評価できるようになりました。特長的な機能

  • 試料表面の干渉縞を自動検出する Interference Finder 機能
    異なる反射もしくコントラスト特性を有する測定面の走査技術がよりスマートに
  • フィルタの自動処理
  • マスク、プロファイル、レイヤーでの作業が可能に
  • 2D および 3D データ表示可能で多くの異なる表面パラメータによる評価
  • 特性値の多くは、QS-Stat などへエクスポート可能
  • アプリケーションに対応した独自のタスク ユーザ インタフェースをアドオンで作成可能
  • 球面マッチングや、高さ、層の厚さ、体積を決定するための幾何学的評価オプション
  • 複数の測定データを合成するスティッチング機能において、測定が高速化し、さらに横方向の測定エリアが拡張
  • レポート作成オプションの機能拡張


Polytecの「レシピ」ソフトウェアは、それぞれの測定タスクに応じて、評価パラメータ(後処理工程、見える化するか否か、エクスポートオプションなど)とともにデータ取得設定(測定位置、照明設定、カメラパラメータなど)を定義することができます。

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