光学式表面プロファイラ

ポリテックの非接触表面形状測定システムの測定原理は、干渉 / 垂直スキャニング干渉計または干渉レーダなどと呼ばれ、よく知られている白色光干渉の原理に基づいており、ほぼすべての材料において広範な面の平坦度や段差、平行度を測定できます。深い測定深度とナノメートル分解能が大きな特長です。

広い範囲の測定用システム

生産管理などの厳しい環境、または研究室において、精密製品の表面を測定する場合、白色光干渉計は、理想的なソリューションです。

顕微鏡型システム

優れた平面分解能により微細構造上も高精度に測定できます。測定操作は非常にシンプルかつユーザフレンドリです。

共焦点センサ

ポリテックのTMS TopSensおよびシリーズはクロマティック共焦点センサであり、マイクロィナノサイズの表面形状と粗さ、さらに透明な測定物の厚みを測定することができます。センサヘッドは、可動部品が含まれていないため堅牢でメンテナンスが不要です。自動車、半導体、エレクトロニクス、マイクロエレクトロニクスの分野のアプリケーションにおいて使用することができます。

ソフトウェア

TMS Software は、TMS シリーズまたは MSA-500 の表面形状測定機能で使用できる、測定データの収集と解析のための使いやすいソフトウェアです。 このソフトウェアには、装置の操作や測定データの収集・解析・表示を行うためのコマンドがすべて搭載されています。 卓越した 2D および 3D データ表示機能は、プロファイル カット/フィルタリング アルゴリズムによってさらに拡張できます。

サービス

ポリテックの計測サービスやレンタルサービスを利用すれば、高精度の速度/長さ測定を実施することができます。

またポリテックはユーザトレーニングやアプリケーション・サポート・サービスも提供しています。

技術サービス

光学測定機器は、長い年月、使用できます。常に最新版でご使用いただけるよう、ポリテックではさまざまなサポートサービスを提供しています。使用中の機器が最新版であるかどうかをまずはポリテックジャパンカスタマサポートでご確認ください。また長く機器をご使用いただくために機器の正しい運用方法についても併せてご確認いただけます。

ほとんどの機器はポリテックジャパンカスタマサポートにて、サポートサービスをご提供できます。機器の梱包および輸送を手配することもできますのでご相談ください。