TopMap µ.Lab

Caractérisation microscopique 3D de la surface avec une résolution étonnante en subnanomètre

Système de microscope avec résolution subnanométrique

Le TopMap µ.Lab vous permet de caractériser des surfaces de micro structures avec une très haute résolution latérale. Le profilomètre optique détermine sans contact des caractéristiques techniques telles que la texture, la planéité, l'ondulation et la rugosité sur des structures fines et sensibles. La technologie de numérisation de surface intelligente de Polytec (Polytec Smart Surface scanning) permet même de mesurer différentes zones réfléchissantes d'une surface.

Microscope optique de mesure pour l'analyse de surface

Une plaque de positionnement motorisé en XY, en option, permet facilement d'assembler chaque image. L’augmentation des distances de travail peut se compenser par un objectif adapté.

Optical surface metrology - see more details

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