TopMap Micro.View

Profilomètre 3D compact (table-top)

PROFILOMETRE 3D COMPACT – TABLE-TOP

TopMap Micro.View est un profilomètre optique compact et facile à utiliser. Ce système de métrologie combine des performances exceptionnelles et un prix abordable. Avec une plage de mesure Z étendue de 100 mm et la technologie de balayage continu CST, Micro.View mesure des topographies complexes avec une résolution nanométrique. Cette configuration de table facile à mettre en œuvre comprend une électronique intégrée, le Focus Finder intelligent simplifiant et accélérant la procédure de mesure.

Métrologie de surface compacte et performante

Bénéficiez de la technologie optionnelle de compensation environnementale ECT, garantissant des résultats de mesure fiables et précis même en environnement de production bruyant et difficile. Micro.View est l'instrument de contrôle qualité rentable pour l'inspection de surfaces de précision dans la fabrication et la recherche.

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Xperts inside! La prochaine génération de métrologie optique de surface

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