Optimisation rapide et fiable des micros systèmes

Pour la caractérisation d'un grand nombre de systèmes microsystèmes électromécaniques (MEMS) différents, tels que les capteurs d'accélération, les capteurs de pression, les filtres RF, les labos microscopiques, les gyroscopes et bien plu. Polytec vous propose toute une gamme de produits adaptés vos besoins. Ils allient rapidité, précision et simplicité. Ils vous permettent ainsi d'analyser avec précision, la hauteur de marche, le parallélisme, la planéité et la forme.

Avec le système de microscope de TopMap et grâce à ses excellentes résolutions latérale et verticale, même les structures de l’ordre du micromètre ne posent plus problème. Les systèmes TopMap avec un grand champ de vision pour des cycles de mesure rapides vous permettent d'obtenir une haute résolution en z, sur de grandes surfaces, idéales pour la caractérisation de MEMS ou d’autres capteurs. Si les résultats de mesure statistiques ne sont pas suffisants, optez pour de la mesure dynamique avec l'analyseur Polytec de microsystème, le MSA Micro System Analyzer. En plus de la mesure d’état de surface, il vous permet également de faire des mesures vibratoires hors plan ou dans le plan. Les capteurs TopSens confocaux chromatiques configurables de Polytec vous proposent de nombreuses applications permettant de mesurer un grand nombre de matériaux différents, avec une grande précision. Les capteurs ponctuels étant spécialement conçus pour être utilisés dans des process industriels, ils sont faits pour s’intégrer rapidement et facilement à votre équipement existant.

Votre PolyXpert en Métrologie de surface