Mesure de planéité, rugosité, hauteur de marche, parallélisme, texture, finition, et bien plus encore !

Solutions de métrologie optique multifonctions et innovantes pour la topographie de surface. Découvrez plus d'informations dès maintenant !

Demande de catalogue

Pourquoi utiliser un profilomètre sans contact ?

Les systèmes TopMap de Polytec mesurent avec une résolution de l'ordre du nanomètre en environnement laboratoire et production, ce qui permet un retour immédiat sur les processus. Grâce à des normes de performances les plus élevées du secteur, Polytec est devenu un leader dans le domaine du contrôle qualité industrielle.

Pourquoi Polytec?

FAITES APPEL À NOS INGÉNIEURS

Des ingénieurs application expérimentés sont disponibles pour effectuer vos mesures

LOCATION
OU ACHAT

Louez ou faites appel à notre service application pour des mesures ponctuelles, des besoins urgents ou des délais courts

ÉVALUEZ AVANT D'ACHETER


Évaluez la solution de Polytec avant de prendre votre décision finale d'achat

 

 

CHOISISSEZ VOTRE LIEU D'ESSAI

Essais à votre convenance, dans vos locaux ou dans l'un des nombreux laboratoires Polytec

BÉNÉFICIEZ DE LA TECHNOLOGIE LA PLUS RÉCENTE

Accédez à la dernière technologie de mesure sans contact

Pour quels secteurs ?

Systèmes de métrologie de surface

Les systèmes optiques TopMap de Polytec pour la topographie de surface sont des outils de métrologie innovants, de haute précision et sans contact, basés sur le principe de l'interférométrie lumière blanche, également appelée interférométrie à cohérence ou à balayage vertical. Grâce à leur grande plage verticale et à leur résolution de l'ordre du nanomètre, ils sont parfaits pour mesurer la planéité, les hauteurs de marche et le parallélisme de grandes surfaces et structures, sur presque tous les matériaux.

Demander une démo

SYSTÈMES DE MESURE DE GRANDES SURFACES

Les interféromètres lumière blanche sont la solution idéale si vous souhaitez mesurer des surfaces usinées avec précision en laboratoire de recherche, dans des environnements de production ou autres contextes exigeants, tels que le contrôle de la production.

SYSTÈMES BASÉS SUR LA MICROSCOPIE

Grâce au faisceau de lumière microscopique, ces systèmes Polytec vous permettent d'obtenir la résolution de détails latéraux les plus fins sur des microstructures. Ce processus est très simple d’utilisation et convivial.

CAPTEURS CONFOCAUX

Sur les lignes de production, les capteurs confocaux de Polytec offrent une mesure intégrée de la distance et de l'épaisseur, même sur des objets d'essais transparents, tout en permettant de déterminer la micro ou la nanotopographie et de mesurer la rugosité.

LOGICIEL

En plus d'un fonctionnement intuitif des systèmes de mesure topographiques, le logiciel de mesure et d'analyse TMS permet de filtrer et d'analyser facilement vos données de mesure. Pour l'analyse automatisée des opérations de mesure de routine, l'architecture ouverte du  logiciel offre également une interface spécifique à l'application et configurable par l'utilisateur.

SERVICES DE MESURE

Polytec met à disposition ses ingénieurs application et ses services de location de systèmes vos besoins de mesure de précision. Vous pouvez ainsi utiliser notre technologie de mesure de pointe tout en investissant dans votre propre instrument. Nous proposons également à nos clients des sessions de formation et des services d'assistance pour les applications.

Découvrez dès maintenant toutes nos solutions pour la recherche et la production.

Demande de catalogue