Passive optische Bauteile charakterisieren
Mit Lösungen, die von umfassenden Vektoranalysatoren bis hin zu leistungsstarken Parametertestern reichen, können Ihnen die Lösungen von Luna für die Prüfung optischer Komponenten dabei helfen, Einblicke zu gewinnen, neue Designs zu validieren oder Ihre Produkte zu optimieren. Testen und charakterisieren Sie moderne optische Komponenten, darunter photonische integrierte Schaltungen (PICs) und Silicon Photonics, mit unübertroffener Geschwindigkeit, Präzision und Genauigkeit. Beschleunigen und verbessern Sie Ihr Design oder optimieren Sie Ihre Produktion mit OVAs und LWAs.
Optical Vector Analyzer OVA 5100
The OVA’s measurement parameters: IL, PDL, RL, GD, CD, PMD (first and second order), phase response, impulse response, complex Jones matrix elements, phase ripple
- Wavelength range: 1,525–1,610 nm
- Spectral resolution: 1.6 pm
- Dynamics (IL): up to 80 dB
- Measuring time: 1 s (real-time mode), 55 s (precision mode)
Modelle
- OVA 5100
- Vollständige Charakterisierung anhand amplituden- und phasenabhängiger Parameter für das C- und L-Band
- OVA 5113
- Vollständige Charakterisierung anhand amplituden- und phasenabhängiger Parameter für das O-Band
Software-Pakete
- Desktop Analyse Software
- Software, die alle Analyse- und Datenvisualisierungsfunktionen des OVA 5100 bereitstellt und dabei ausschließlich gespeicherte OVA-Messdatendateien verwendet.
- Polarisation Analyse Software
- Analysiert die Reaktion auf simulierte Polarisationszustände.
- OFDR Option
- Software für optische Frequenzbereichsreflektometer (OFDR) zur Durchführung hochauflösender Reflektometrie-Messungen.
Lichtwellenanalysator
LWA 7000
Der Lichtwellenkomponentenanalysator LWA 7601-C ist ein schnelles und benutzerfreundliches Werkzeug zum Testen moderner optischer Komponenten und Module. Das System nutzt die OFDR-Technologie (Optical Frequency Domain Reflectometry), um rückgestreutes oder durchgelassenes Licht als Funktion von Entfernung/Zeit (oder Wellenlänge) zu messen. Die extrem hohe Empfindlichkeit und Abtastauflösung (20 μm) machen das Gerät zu einem idealen Analysator für PICs und Silicon Photonics. In Kombination mit dem erweiterten Messbereich wird eine Reichweite von bis zu 500 m erreicht und vereinfacht somit die Prüfung von Glasfasernetzen. Der LWA 7601-C reduziert die Kosten und die Komplexität der Prüfung und erhöht gleichzeitig den Durchsatz, indem er RL, IL und Länge in Reflexion oder Transmission mit einem einzigen Gerät misst.
Merkmale
- Return loss (RL) & Insertion loss (IL) Analyse
- Komponentenanalye in Reflexion und Transmission
- Verteilte RL Verfolgung über die Länge des optischen Pfades
- Spektrale Analyse von RL & IL
- Reflexionsereignisse erkennen und genau lokalisieren und die Weglänge messen
- bis zu 500 m
- Geschwindigkeit, Auflösung und Genauigkeit
- zur Optimierung von Produktionstests
- 20 μm Abtastauflösung
- 12 Hz Abtast-/Erfassungsrate
- (80 ms)
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