NIR-Emitter-Charakterisierung

NIR-Quellen schnell und winkelabhängig charakterisieren

Die genaue Charakterisierung von NIR-Quellen wie Oberflächen-Emittern wird im LIDAR-Bereich zur Sensor-Analyse bei autonomen Fahrzeugen oder in der 3D-Fernerkundung eingesetzt. Aber auch die NIR-basierte Gesichtserkennung, zum Beispiel in Smartphones oder sicherheitsrelevanten Banking-Anwendungen, kann durch diese Technologie perfektioniert werden. Apple setzt die Eldim-Systeme bei der Produktion des iPhone X zur Charakterisierung seiner Face-ID ein.

Die Eldim-Systeme wurden für die Messung winkelabhängiger Eigenschaften von NIR-Lichtquellen entwickelt. Sie eignen sich sowohl für den R&D-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Die Geräte messen berührungslos. Sie erzeugen mit einer einzigen Messung ein vollständiges Abbild innerhalb ihres Betrachtungswinkels von ±70° bzw. ±40° bei einer hervorragenden Winkelauflösung von 0,05°. Die Messdauer zur Charakterisierung des Fernfeldes liegt unter einer halben Sekunde. Damit unterscheiden sie sich erheblich von herkömmlichen Methoden, die für vergleichbare Messungen mit einem Goniometer mindestens mehrere Stunden benötigen.

 

Whitepaper: High resolution optical characterization of NIR light sources for 3D imaging