Vier-Spitzen-Messsysteme

Flächenwiderstände messen und mappen

Der Flächenwiderstand einer Schicht und daraus abgeleitete Informationen wie der spezifische Widerstand, die Ladungsträgerdichte oder die Schichtdicke sind Basiskenngrößen, die Sie in vielen Bereichen der Halbleiter- und der Photovoltaikindustrie benötigen. Eine bewährte Methode zur Bestimmung dieser Größen ist die Vier-Spitzen-Messtechnik.

Die mehr als 35-jährige Erfahrung von 4Dimensions auf diesem Gebiet spiegelt sich in der großen Vielfalt und vielen ausgereiften Detaillösungen der hier vorgestellten Systeme wieder.