TopMap µ.Lab

Mikroskopsystem mit Subnanometer-Auflösung

Mikroskopsystem mit Subnanometer-Auflösung

Mit dem TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die Polytec Smart-Surface-Scanning-Technologie misst selbst bei unterschiedlich reflektierenden Bereichen einer Oberfläche.

Messmikroskop für die optische Profilometrie

Mit optionalem, motorisierten XY-Verfahrtisch werden Einzelbilder einfach zusammengefügt (stitching). Je nach Anforderungen wie vergrößerte Arbeitsabstände oder Glaskompensation ist sogar die Entwicklung von anwendungsspezifischen Objektiven möglich.

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