Oberflächenmessgeräte

Optische Oberflächenmessgeräte der TopMap Familie sind Präzisionswerkzeuge für die Qualitätskontrolle funktionaler Oberflächen. TopMap Oberflächenmessgeräte messen berührungsfrei und souverän im Forschungslabor, in der Fertigung und in der Fertigungslinie. Dabei sind die verschiedenen TopMap Modelle speziell für anspruchsvolle Umgebungen entwickelt.

TopMap QC Package

Das QC Package sind smarte Zubehöroptionen und Addons für die Qualitätskontrollen mit der optischen 3D-Oberflächenmesstechnik TopMap, die speziell in rauen Produktionsumgebungen für zuverlässige Qualitätsprüfungen sorgen.

TopMap Metro.Lab

Als komplette Messstation eignet sich das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen. Das sehr gute Preis-/Leistungsverhältnis macht es auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.

TopMap In.Line

Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein Problem dar.

TopMap Pro.Surf

Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.

TopMap Pro.Surf+

Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.

TopMap µ.Lab

Mit dem TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die Polytec Smart-Surface-Scanning-Technologie misst selbst bei unterschiedlich reflektierenden Bereichen einer Oberfläche.