Optische Profilometer

Optische Topographie-Messgeräte von Polytec sind innovative, hochpräzise und berührungslose Werkzeuge zur 3D-Charakterisierung von Präzisionsflächen und Funktionsflächen. Sie basieren auf dem Prinzip der Weißlicht-Interferometrie, auch kohärente oder vertikale Scanning-Interferometrie oder Kohärenzradar genannt. Dank eines großen vertikalen Verfahrwegs, der nm-genauen Auflösung und flächenhaften Messung sind sie ideal, um Formparameter wie Ebenheit, Stufenhöhe, Parallelität berührungsfrei an großen Prüflingen und bei fast allen Materialien zu bestimmen.

Mikroskopbasierte Systeme

Dank des mikroskopischen Strahlengangs erhalten Sie mit diesen Polytec Modellen die Auflösung auch feinster lateraler Details auf Mikrostrukturen – ganz einfach und benutzerfreundlich.

TMS-1200 TopMap µ.Lab

Mit dem TMS-1200 TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die Polytec Smart-Surface-Scanning-Technologie misst selbst bei unterschiedlich reflektierenden Bereichen einer Oberfläche.