Mikroskopbasierte Systeme

Dank des mikroskopischen Strahlengangs erhalten Sie mit diesen Polytec Modellen die Auflösung auch feinster lateraler Details auf Mikrostrukturen – ganz einfach und benutzerfreundlich.

TMS-1200 TopMap Lab

Mit dem TMS-1200 TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die Polytec Smart-Surface-Scanning-Technologie misst selbst bei unterschiedlich reflektierenden Bereichen einer Oberfläche.