Optische Profilometer

Optische Topographie-Messgeräte von Polytec sind innovative, hochpräzise und berührungslose Werkzeuge zur 3D-Charakterisierung von Präzisionsflächen und Funktionsflächen. Sie basieren auf dem Prinzip der Weißlicht-Interferometrie, auch kohärente oder vertikale Scanning-Interferometrie oder Kohärenzradar genannt. Dank eines großen vertikalen Verfahrwegs, der nm-genauen Auflösung und flächenhaften Messung sind sie ideal, um Formparameter wie Ebenheit, Stufenhöhe, Parallelität berührungsfrei an großen Prüflingen und bei fast allen Materialien zu bestimmen.

TMS-150 TopMap Metro.Lab

Als komplette Messstation eignet sich das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen. Das sehr gute Preis-/Leistungsverhältnis macht es auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.

TMS-350 TopMap In.Line

Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein Problem dar.

TMS-500 TopMap Pro.Surf

Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TMS-500 TopMap Pro.Surf aus.

TMS-500-R TopMap Pro.Surf+

Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. TMS-500-R TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.