Oberflächenmesstechnik
Elektronik, Halbleiter und Solartechnik
Die vielfältigen Lösungen von Polytec in der Halbleiterindustrie, für Elektronik und Solartechnik können Sie ideal auf Ihre Anwendungen anpassen. Im Bereich der Software beispielsweise durch anwendungsspezifische Nutzeroberflächen zur OK/nOK Analyse.
Auch zum Überprüfen von elektronischen Kontakten bietet Ihnen Polytec Lösungen, sowohl für die Höhenauswertung von BGAs oder „Löt-Bumps“ als auch die Auswertung der Koplanarität von IC-Beinchen. Ebenso für das Packaging von High Power Laser Diodenfinden Sie bei Polytec die richtige Systeme.
Broschüre Kompetenzfeld Oberflächenmesstechnik
Für verlässliche elektronische Kontaktierungen
In den meisten modernen Produkten befinden sich heutzutage eine Vielzahl an elektronischen Komponenten. Umso wichtiger ist es, die Verbindungen unterhalb der Komponenten sicherzustellen um Funktionsausfälle zu vermeiden. TopMap Oberflächenmesssysteme gewährleisten die Fehlerfreiheit noch während des Lötprozesses indem sie schnell relevante Parameter wie die Höhe der Lötpunkte oder die Koplanarität von IC-Beinchen prüfen.
Zugehörige Produkte
TopMap Metro.Lab
Als komplette Messstation eignet sich das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen. Das sehr gute Preis-/Leistungsverhältnis macht es auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.
TopMap In.Line
Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein...
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap µ.Lab
Mit dem TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die...
High Power Laser Dioden (HPLDs) mit einer einzigen Messung erfassen
Um die zuverlässige Funktion von „High Power Laser Dioden“ (HPLD) zu gewährleisten, ist es wichtig, die Gehäuse auf korrekte Ebenheit und Stufenhöhen zu überprüfen. Nutzen Sie dazu eine bewährte Technologie, die feinste Höhenunterschiede erfasst und Ihnen zuverlässig und schnell Messergebnisse liefert: die Oberflächenmesssysteme von Polytec.
Mit den Produkten der TopMap Serie wie dem TMS-350, TMS-500 und TMS-1200 vermessen Sie Dioden in Laser Arrays und bewerten die „Smile“ Oberflächenkrümmung sowie die Stufenhöhen direkt auf den Halbleitern. Dank der großflächigen Messbereiche benötigen Sie nur eine einzige Messung. So erfassen Sie bequem und in kurzer Zeit die Gehäuse von Laserdioden ohne Einbußen bei der Höhenauflösung.
Zugehörige Produkte
TopMap In.Line
Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein...
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap µ.Lab
Mit dem TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die...
Für zuverlässige Smartphones & Mobilgeräte
Mobile Endgeräte wie Smartphones, Tablets und Notebooks sind heutzutage zum Allgemeingut geworden und erleichtern den Alltag vieler Menschen. Damit sie dauerhaft und reibungslos funktionieren, müssen bei der Produktion die Toleranzen der verwendeten Bauteile überprüft werden.
Die wichtigste Schnittstelle des Smartphones zum Anwender ist der Touchscreen – dessen Ebenheit überprüfen Sie mit Polytecs TopMap Pro.Surf, das besonders dazu geeignet ist, große Oberflächen messtechnisch zu erfassen. Zum Sicherstellen der Glasdicke in der Produktion liefern Ihnen die TopSens-Systeme von Polytec nahezu in Echtzeit Dicken- oder Höhenwerte. Um Mikroelektromechanische Systeme (MEMS) bis ins kleinste Detail zu prüfen, stehen Ihnen Mikroskopsysteme wie das TopMap µ.Lab zur Verfügung.
Kurz gesagt: Damit sich die Anwender auf ihre Mobilen Endgeräte jederzeit verlassen können, liefern die Oberflächenmesssysteme von Polytec wichtige Grundlagen.
Zugehörige Produkte
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap µ.Lab
Mit dem TopMap µ.Lab charakterisieren Sie Oberflächen von Mikrostrukturen mit sehr hoher lateraler Auflösung. Das optische Profilometer ermittelt berührungsfrei Kenngrößen wie Textur, Ebenheit, Welligkeit und Rauheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die...
Zuverlässige Gut-Schlecht-Bewertungen in der Linie
In industriellen Prozessen kommt es auf eine hohe Präzision bei der Herstellung an. Dafür sind entsprechend enge Toleranzen einzuhalten. Die moderne Fertigungsmesstechnik stellt sicher, dass diese Grenzen auch stets eingehalten werden. Denn nur mit präzisen Messsystemen erzielen Sie auf Dauer eine hohe Qualität der Produkte.
Optische Oberflächenmesssysteme, die als In-line-Anwendungen in die Produktionslinie integrierbar sind, erkennen fehlerhafte Teile bereits im Prozess. Diese Ergebnisse machen es Ihnen möglich, rechtzeitig Vorsichtsmaßnahmen zu ergreifen die Produktion anzupassen. Verlässliche Gut-Schlecht-Analysen direkt in der Fertigungslinie erhöhen die Effizienz und halten die Reputation hoch.
Die Weißlicht-Interferometer von Polytec ermöglichen Ihnen Strukturen und Oberflächen berührungslos und blitzschnell zu untersuchen. Dabei ist es in vielen Fällen erforderlich, die gesamte Topographie eines Objekts vor der Zertifizierung zu überprüfen. Die perfekte Lösung für großflächige Oberlächencharakterisierung bieten Ihnen die TopMap-Serie.
Zugehörige Produkte
TopMap In.Line
Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein...
TopMap Pro.Surf+
Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und...
Lötpunkte sicher und schnell überprüfen
Halbleiter-Chips ohne Gehäuse werden häufig im Flip-Chip-Verfahren über „Bumps“ verbunden. Um eine korrekte und einwandfrei funktionierende elektrische Verbindung zwischen den einzelnen Kontaktflächen des Chips und dem Gehäuse sicherzustellen, ist die Koplanarität der Bumps entscheidend.
Mit den Oberflächenmesssystemen von Polytec überprüfen Sie hochpräzise und schnell die Höhe von Lötpunkten und die Koplanarität – und das großflächig selbst ohne zu stitchen.
Zugehörige Produkte
TopMap Metro.Lab
Als komplette Messstation eignet sich das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen. Das sehr gute Preis-/Leistungsverhältnis macht es auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.
TopMap In.Line
Dank kompakter Bauform lässt sich das TopMap In.Line einfach in die Fertigungslinie integrieren und überprüft schnell auf unterschiedlich reflektierenden Oberflächen. Stufen, größere Welligkeiten oder sonstige Strukturen der Oberflächen stellen dabei kein...
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
