In unserem Pressebereich finden Sie alle Meldungen inklusive druckfähiger Pressebilder aus unseren Technologiebereichen Schwingungsmesstechnik, Längen- und Geschwindigkeitsmessung, Oberflächencharakterisierung, industrielle Bildverarbeitung, Optische Systeme und Prozessanalytik. Die Pressemitteilungen und Fotos stehen Ihnen honorarfrei zur Verfügung, um Belegexemplare wird gebeten.

HSC-2 Hyperspektralkameras von Senop

Polytec erweitert sein Imaging-Portfolio um die Hyperspektralkameras des finnischen Herstellers Senop.

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FirstLight SWIR-Kameras

Polytec ergänzt sein IR-Kameraportfolio durch die industrietauglichen InGaAs-Kameras des französischen Herstellers FirstLight Imaging.

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UV-Härten mit OmniCure S2000

Polytec stellt die neue Generation des UV-Punkthärte-Systems OmniCure S2000 Elite von Excelitas Technologies vor.

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Bundesbeste Auszubildende als Zerspanungsmechanikerin

Die ehemalige Polytec Auszubildende Larissa Heller wurde von der IHK für ihre Leistungen bei ihrer Abschlussprüfung als Bundesbeste ausgezeichnet.

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VibroGo: Portable laser vibrometer

VibroGo® ist die Laser-Schwingungsmesstechnik für unterwegs – von Forschung über Feldstudien bis hin zur Zustandsüberwachung von Maschinen und…

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Oberflächenmessung

In der industriellen Fertigung sind gleichermaßen Güte der produzierten Erzeugnisse sowie Effizienz entlang der gesamten Fertigungsprozesse die…

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Spezialklebstoff-Herstellung

Karlsbad/Maxdorf, 01.10.2021 – Polytec PT GmbH intensiviert die langjährige Partnerschaft mit CollTech R&D Center GmbH (vormals Wellmann Technologies)…

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Polytec Webmagazin überzeugt mit Anwendungs- und Forschungsberichten im Bereich der optischen Messtechnik

Mit seinem neuen kostenlosen Polytec Magazin launcht das weltweit tätige Messtechnik-Unternehmen Polytec ein digitales, modernes…

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 IVS-500: 3-in-1 non-contact measurement of vibration

In der modernen Qualitätssicherung sind objektive Qualitätskontrollen direkt in der Fertigungslinie essentiell, um hochwertige und langlebige Produkte…

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MSA-650 IRIS Micro System Analyzer for areal scanning through capped MEMS

Neue IR-optische Messtechnik zur Analyse des Bauteildynamik Si-verkappter Mikrostrukturen.

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