表面測量
硬盘驱动技术
硬盘驱动器无处不在，每个人都依赖于它们可靠、无误工作。为了保证这些基本方面，制造商及其供应商将大部分精力投入到开发和生产中。
Polytec 在这方面为他们提供了帮助。无论您是处理硬盘轴承、硬盘还是写/读头，Polytec 生产的表面测量产品系列都能帮助您提高生产过程的可靠性。
可靠地检查硬盘轴承
读/写头上的磁盘轴和致动器轴承在硬盘驱动中起关键作用。毕竟，只有耐用的轴承才能实现连续可靠的硬盘驱动操作。无论您正处于研发过程中创建新轴承类型、正在进一步开发现有轴承或是在生产过程中进行随机检查的阶段，您都可以通过测量表面参数得出关键结论，以用于未来生产操作。因此，您可以检查平面度参数对轴承性能的影响，或可靠地检查生产中的定义公差。
Polytec 表面测量系统，特别是 TopMap 系列产品的型号，非常适合于该应用，还可以根据您的要求量身定制。为什么不试试我们的解决方案？
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非接触式的监视硬盘驱动器
硬盘驱动器的表面质量是可靠存储、检索文件和信息（无论是数据处理中心还是日常个人使用）的决定性因素之一。
Polytec 为您提供合适的表面测量系统。您可以使用这些系统来满足指定公差、甚至是定位生产线上的缺陷，从而快速分析表面参数。TopMap 系列产品的型号可以通过非接触、快速并以可以单独优化以适应您的应用的方式，来完成所有这些任务。Polytec 解决方案包括显微镜系统和大面积测量系统。您甚至可以使用显微镜系统来检测最小的细节，也可以使用具有同样高水平高度分辨率的大面积测量系统快速测量大型表面。
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TopMap µ.Lab
您可以通过 TopMapμ.Lab 以非常高的横向分辨率表征微结构的表面。光学轮廓仪能非接触式地确定精细和敏感结构上的参数，例如纹理、平面度、波纹和粗糙度。Polytec 智能表面扫描技术甚至可以测量具有不同反射率的表面区域。
测量写/读头的表面参数
硬盘驱动上的读/写头是一个极其复杂的组件。即使在研发阶段，检查各种表面参数以确保之后一切操作的顺利进行都是非常重要的。
Polytec 表面测量系统允许您一次性捕获读/写头的整个表面，不仅节省时间，而且还能可靠且轻松地分析各种组件的高度差异。平面度特征也不会造成任何问题。根据要求，可以使用大面积测量系统或显微镜系统来测量粗糙参数。
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您可以通过 TopMapμ.Lab 以非常高的横向分辨率表征微结构的表面。光学轮廓仪能非接触式地确定精细和敏感结构上的参数，例如纹理、平面度、波纹和粗糙度。Polytec 智能表面扫描技术甚至可以测量具有不同反射率的表面区域。
