新一代光学表面轮廓仪

TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计,可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度,纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来,实现惊人的可视化和扩展分析,如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。

亮点

  • 纳米级分辨率的高端白光干涉仪
  • 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围
  • 配有自动“对焦仪”和“对焦跟踪器”进行自动化
  • 电动X,Y,Z,倾斜调平台和转塔无需再重新定位
  • 用于缺陷扩展分析和文档记录的颜色信息模式
  • 模块化,特定于应用程序的配置

启用自动化且可投入生产线

编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ 采用最新的“对焦仪”和“焦点追踪器”,使表面在任何情况下都保持聚焦。 采用全电动的样品定位台可实现缝合和自动化。

 

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Xperts inside! 新一代光学表面轮廓仪

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