从简单的3D光学表面分析系统开始

Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一种高精度白光干涉仪(相干扫描干涉仪),具有大的垂直范围和纳米分辨率。这意味着 Metro.Lab 外形测量系统非常适合非接触式测量大面积表面和结构,甚至是柔软和精密材料的平面度、台阶高度和平行度。

作为一个完整的测量站,TopMap Metro.Lab 是您想要测量几乎所有表面上的大面积外形的最佳解决方案。即使在困难条件下,70mm 的大垂直测量范围也允许您使用亚纳米分辨率进行测量。

由于 TopMap Metro.Lab 物超所值,无论是用于计量实验室或是靠近生产现场的地方,都非常具有吸引力。它可以处理许多您以前使用触觉系统进行处理的任务。与所有 TopMap 系统一样,开放式的软件架构还允许您编制常规任务或设置自己的用户界面。

亮点

  • 由于光学干涉测量原理,它属于非接触式
  • 远心镜头让测量陡峭部分(例如钻孔)成为可能
  • 70 mm 的范围,非常灵活
  • 快速测量大面积
  • 增强版的大面积测量范围可达约 80 x 80 毫米
  • 易于使用的自动化软件,生成 DIN / ISO 合规性参数
  • 具有智能表面扫描功能,适用于几乎所有表面,即使是那些具有参差不齐反射率的表面
  • 可集成在防尘防振工作站中,用于机器大厅

Optical surface metrology - see more details

Your PolyXpert in Surface-Metrology