在生产线上进行快速光学表面检查

当循环时间决定生产条件时,TopMap In.Line 完全根据生产质量保证的需求量身定制。若您想要以高通量速度精确、快速地非接触式测量表面时,这是一个理想的系统。

亮点

  • 采用最新的高速传感器技术,可在短周期内进行测量
  • 高精度 z-轴分辨率仅为几纳米
  • 重复性高:公差检查可靠
  • 稳固、维护低
  • 由于全场(区域)测量数据,不会忽略任何细节
  • 甚至可以表征极度反射或无光泽表面
  • 非接触式测量原理:非侵入式和非破坏性
  • 集成接口到内部数据库和 QS-STAT™ 等

Surface metrology for in-line quality assurance

TopMap In.Line 设计紧凑,意味着它可以轻松集成到生产线。该装置可在短周期内可靠地检查形状偏差,例如平面度或波纹。TopMap In.Line 甚至还可以表征孔内区域和台阶高度。

它还提供了一种具有可远程控制的开放式软件架构的专用测量分析软件。通过定制软件,您可以极其方便地自动化过程工作流。您可以直接将数据导出到您的内部数据库。集成 QS-STAT™ 输出使您能够可靠地分析过程数据。

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