TopMap In.Line

在生产线上进行快速光学表面检查

生产线中的表面快速分析

当循环时间决定生产条件时,TopMap In.Line 完全根据生产质量保证的需求量身定制。若您想要以高通量速度精确、快速地非接触式测量表面时,这是一个理想的系统。

TopMap In.Line 设计紧凑,意味着它可以轻松集成到生产线。该装置可在短周期内可靠地检查形状偏差,例如平面度或波纹。TopMap In.Line 甚至还可以表征孔内区域和台阶高度。

它还提供了一种具有可远程控制的开放式软件架构的专用测量分析软件。通过定制软件,您可以极其方便地自动化过程工作流。您可以直接将数据导出到您的内部数据库。集成 QS-STAT™ 输出使您能够可靠地分析过程数据。

Optical surface metrology - see more details

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