大面积测量系统

如果您想在研究实验室、生产过程和如生产控制之类具有挑战性的环境中测量精确制造的表面,白光干涉法是最理想的解决方案。

TopMap Micro.View+

TopMap Micro.View +是模块化设计的新一代光学表面轮廓仪,能够以最高精度可靠地测量有关表面光洁度和微观结构的最具挑战性的分析任务。焦点查找器和焦点跟踪器有助于保持样品始终聚焦,全电动定位装置随时准备自动化。了解更多!

TopMap QC Package

A whole new package of smart features for quality control (QC) tasks are now available for the TopMap 3D surface profiling systems - the TopMap QC Package supports surface inspections especially in challenging production environments.

TopMap Micro.View

TopMap Micro.View是易于使用且紧凑的光学轮廓仪。 选择Micro.View作为具有成本效益的质量控制解决方案,用于精密工程的表面分析,检查粗糙度,微结构和更多表面细节。

TopMap Pro.Surf+

Polytec 新的一体化系统。白光干涉仪的精度,加上色彩共焦传感器,足以克服一台装置上已确定的形状偏差和任意粗糙度。Pro.Surf + 用于测量大面积外形,并且在这样做时,还可以表征纳米分辨率的结构。

TopMap Pro.Surf

快速和精确地表征 3D 表面的理想选择。面积测量确保没有忽略任何细节。TopMap Pro.Surf 的特点是测量时间短、视野大。

TopMap In.Line

设计紧凑,意味着它可以很容易地集成到生产线中,并在不同反射表面上快速执行检查。这里,台阶、更大的波纹或其他表面结构都不会造成任何问题。

TopMap Metro.Lab

它是一个完整的测量站,非常适合几乎所有表面的大面积外形。由于它物超所值,对于较少任务的小公司也具有吸引力。