TMS-100 TopMap Metro.Lab - 概要

TopMap Metro.Labは、スキャニング白色光干渉計の搭載により、表面粗さや形状を最高20 nmの高分解能で計測できます。

また、離れている複数の表面間（最大間隔70 mm）の平行度も計測できます。

TopMap Metro.Lab の特長

• 干渉計をベースとした非接触タイプの表面形状計測ツール
• テレセントリック光学系により、ドリル穴のような深くて急峻な側面も正確に計測
• 最大70 mmの深い測定深度で多用途な計測が可能
• 広い視野でスピーディに計測
• スティッチング機能により最大80 mm平方の広い視野をサポート（拡張タイプのみ）

曲率や表面粗さの計測が、シンプルで効率的に

TopMap Metro.Labは、非接触で広領域の形状データを計測できるオールインワン型測定システムです。

精密部品には精巧に加工された平面や曲面が数多く存在し、形状計測や比較などの検証を欠かすことはできません。TopMap Metro.Labの広い視野と測定深度は、迅速なスループットが求められる測定タスクにおいて大きなメリットを発揮します。

ポリテックは、処理能力の向上とシンプルな操作性、高精度な測定データと優れたコストパフォーマンスを結集し、従来の接触型計測手法に変革をもたらします。

最大70 mmの測定深度を持つTopMap Metro.Labでは、表面粗さやリップル（波状）形状、平行度などの計測を簡単な操作で実行できます。特に、従来より困難とされていた計測条件、たとえば止まり穴の上面と底面の表面形状の比較などにも利用できます。

また、通常タッチプローブを用いて測定される標準的な表面パラメータも簡単に抽出できます。

TopMap Metro.Labでは1度の計測で測定領域全体をキャプチャできるため、個々の直線から測定領域を合成する必要がなく、通常の計測は数分で完了します。

スキャニング白色光干渉計では、試料にダメージを与えない高精度・非接触の表面形状計測と解析ができ、どんな材質や硬さの測定物にも対応します。

標準タイプのTopMap Metro.Labの視野より広い領域の計測が必要な場合には、拡張タイプのTopMap Metro.Labをご利用いただけます。拡張タイプでは、視野をX軸またはY軸方向に最大50 mmまで移動できます。

全体の測定領域を分割して計測した後、各計測データをソフトウェアでスティッチング（結合）します。こうして、計測領域全体の形状を割り出します。
スティッチング処理を行うと、測定可能領域が最大80 mm平方まで拡大します。TopMap Metro.Labは費用対効果にも優れ、測定ターゲットが少量の場合にも十分ご活用いただけます。

TopMap Metro.Labには、簡単に操作できるTMS Softwareがプリインストールされています。TMS Softwareはポリテックが開発した独自のソフトウェアで、システムに必要なすべての操作/解析ツールが搭載されています。

オープン アーキテクチャ設計のTMS Softwareは、たとえば定型的な測定業務をMicrosoft Visual Basic®でプログラミングしたり、ユーザ インタフェースをカスタマイズしたりすることも可能です。