表面形状計測

ポリテックの高精度TopMap表面形状計測システム（TMS：Topography Measuring Systems）は、非接触で測定物表面の形状を計測する最先端のスキャニング白色光干渉計です。

深い測定深度とナノメータレベルの分解能を特長とするTopMapシリーズは、測定物表面の硬さにかかわらず、表面粗さ、平面度（凹凸）、および平行度を広範囲に計測できる理想的なツールとしてご活用いただけます。

ミリメートル未満から数センチサイズの部品や構造体は今日、半導体、データストレージ、センサ、工学、自動車などの分野で限りない用途に利用されています。
こうした部品に対する表面形状計測は、必要不可欠な技術として、あらゆる産業で活用されています。