Media and Substrate Characterization

メディアの Nano-defect を検出 / 表面形状を測定する光学表面特性解析システム

ハードディスク ドライブはナノメートルの精度で製造されます。製造過程で生じたわずかな変化により、表面の粗さにばらつきが起こり、その大きさによっては市場に出回ってから問題を起こすこともあります。最適な歩留まりを得るには製造工程の最適化も必要であり、製品の特性を測定・把握することによってのみ持続的な改良を行うことができます。従来の技術ではディスクを部分的にしか測定できませんでしたが、ポリテックの AVT-1000 Advanced Vibrometry Tester なら、試料の表面粗さを表面全体にわたって測定でき、プロセスの最適化に役立つ重要な情報を検出できます。ポリテックの AVT-1000 だけが、他のソリューションにはない精度とスピード、そして広面積の測定を実現しています。

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