太陽光発電 / 半導体

PV/Solar & Semiconductors

革新的な技術や材料を応用した太陽光発電、エレクトロニクス、半導体製品の開発、品質管理、予防保全には、最先端の設計が適用された検査評価装置が必要です。ポリテックでは、製品の振動や表面形状、材料パラメータなどを非接触で測定する、強力な光学計測装置を幅広いラインアップで提供しています。

ソーラーパネルの動的応答の測定

Measuring the Dynamic Response of Solar Panels

ポリテックの PSV-400 スキャニング振動計では、従来の接触型トランスデューサとは異なり、太陽光発電パネルに生じる振動を非破壊、非接触、遠隔で計測することができます。それにより、機械的特性の正確な算出や、新開発の材料の耐用年数の予測が可能になりました。

薄膜ソーラーセルの表面形状測定

Surface Metrology of Thin-Film Solar Cells

現在の薄膜太陽電池の製造プロセスでは、レーザ加工(またはマイクロマシニング)技術によってシリコン層を除去し、モジュール内の単体セルを直列接続します。ポリテックの表面形状計測システムでは、このようなレーザ加工された構造体の表面形状を容易かつ正確に計測でき、広範囲なシリコン除去や単一レーザパルスによるアブレーションの分析に役立ちます。

応用事例