Komponenten-Analyse

Optical Backscatter Reflectometer - OBR

Die OBR-Produktfamilie von Luna beinhaltet zwei ultra-hochauflösende Reflektometer, die auf einem interferome-trischen Messprinzip basieren. Die hohe Auflösung und Rückstreuempfindlichkeit erlauben bislang nicht erreichte Mess- und Analysemöglichkeiten für faseroptische Komponenten und Systeme.

• Räumlich Zweipunktauflösung: 20 µm über 30 m
• Bereichserweiterung: 1 mm Auflösung über 500 m
• keine Totzone
• Hohe Empfindlichkeit: -125 dB (70 dB Dynamik)
• IL und RL an beliebigen Stellen im Netzwerk in einem Scan 
• Polarization Tracking (Änderungen des SOP)
• Einsetzbar für Single-Mode und Multi-Mode

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OBR 4400

Im Vergleich zum Standard-OBR bietet das OBR 4400 zusätzlich:

• Räumliche Zweipunktauflösung: 10 µm über 30m und 20 µm über 70 m
• Bereichserweiterung: 3 mm Auflösung über 2 km
• Hohe Empfindlichkeit: -130 dB (70 dB Dynamik)
• Mobil durch Kompaktgehäuse und USB-Schnittstelle (Laptop)

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Optical Vector Analyzer

Die Serie der Optical Vector Analyzer (OVA) von Luna Technologies charakterisiert passive optische Komponenten mit sehr hoher Geschwindigkeit (Single-Scan) und Genauigkeit. Spektral werden über das gesamte C- & L-Band folgende Parameter erfasst:

• Einfügedämpfung (IL)
• Polarisationsabhängige Verluste (PDL)
• Polarisationsmodendispersion (PMD)
• Chromatische Dispersion (CD)
• Group Delay (GD)
• Optical Time Domain Windowing
• Jones Matrix Elemente
• Optical Phase Response

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Optical Vector Analyzer - External Laser

Die OVA- Versionen EL und ELp haben eine ähnliche Performance wie alle OVA-Produkte. Sie besitzen allerdings keinen eingebauten Laser, sondern können mit einem bereits vorhandenen, externen Laser der 81600 /81640-Serie von Agilent betrieben werden. Im Vergleich zur ELp- bietet die EL-Version zusätzlich ein Modul zur Messung der chromatischen Dispersion.

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Optical Frequency Domain Reflectometer (OFDR)

Diese OFDR ermöglichen eine Fehlstellenlokalisierung und Analyse von optischen Komponenten und Subsystemen.

• Hohe räumliche Auflösung: bis zu 20 µm
• Hohe Empfindlichkeit: 80 dB Dynamik, 100 dB Empfindlichkeit
• Großer Messlängenbereich: bis zu 40 m in Reflexion und 80 m in Transmission
  
  

Die Geräte sind als Stand-Alone Instrumente erhältlich oder als Upgrade zu einem Optical Vector Analyzer (OVA).

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