Polytec präsentiert sich auf der Semicon u.a. mit den Themenschwerpunkten der Halbleitermesstechnik.
Vierspitzenmessplätze zum Messen und Mappen von spezifischen Widerständen und Flächenwiderständen. Unsere CV- und IV-Messgeräte erschließen, ohne zusätzliche Metallisierungsschritte, ein breites Spektrum der elektrischen Charakterisierung unterschiedlichster Materialien, wie Oxide, Dielektrika, Schichten auf leitenden und isolierenden Substraten sowie SOI-Wafer.
Weitere Informationen zur Veranstaltung finden Sie unter: http://wps2a.semi.org/wps/portal/_pagr/128/_pa.128/463
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