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Copyright 2010 Polytec GmbH. Änderungen der technischen Spezifikationen vorbehalten. |
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Spiegelhalter für optische Scanner exakt plan gefertigt mit TopMap
Die Spiegelhalter für die Geometrie-Scaneinheit des Scanning Vibrometers werden in der Mechanik-Fertigung bei Polytec auf einem Dreh-Fräszentrum hergestellt. Während der maschinellen Bearbeitung auftretende Spannungen können die Ebenheit der resultierenden Oberfläche beeinträchtigen. Die Abweichungen werden mithilfe eines TopMap Weißlicht-Interferometers kontrolliert und der Fertigungsprozess entsprechend optimiert.
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 Ebenheitsmessung an Spiegelhalter |
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3D-Vermessungen an Stoßdämpferkolben
In der Herstellung von Arbeitskolben für Pkw-Stoßdämpfer müssen trotz hohem Durchsatz kleine Toleranzen bei Form und Oberflächenparametern eingehalten werden. Für taktile Messsysteme ist es aufgrund der unterbrochenen Form des Werkstücks und der tiefen Lage der zu messenden Flächen schwierig, die notwendigen Reproduzierbarkeiten zu erreichen. Die Weißlicht-Interferometrie als optische Messtechnik liefert hingegen mit hoher Wiederholgenauigkeit in wenigen Sekunden die Topographie der gesamten Flächen.
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 Topography of shock absorber piston |
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Measurement of Security Features on Banknotes
Various security features on banknotes are intended to protect against counterfeiting and to help in recognizing counterfeit notes. A common characteristic is raised print – the result of a special printing process. This is what typically gives banknotes their unique feel, whereas the printing height of counterfeit notes is often quite flat and difficult to sense. The inspection of print height can be done quickly and easily with White-Light Interferometry.
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 Measurement of bank notes |
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Strukturierte Funktionsoberflächen
Funktionale Oberflächen mit engen Toleranzen erfordern hochpräzise Messsysteme, die in kurzer Zeit flächig die Topographie aufnehmen können, beispielsweise die mit einer Genauigkeit von wenigen Nanometern oder sogar von Subnanometern in vertikaler Richtung arbeitende Weißlicht-Interferometrie.
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 Zerstäuber-Membran |
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Ebenheitsmessungen in Sackbohrungen
Eine besondere Herausforderung ist die Messung der Ebenheit und Parallelität von Basis- und Bohrflächen in Sacklöchern bei ungünstigen Seitenverhältnissen (eng und tief). Das TopMap Pro.Lab kann noch in schmalen Bohrungen bis zu 50 mm Tiefe und das TopMap Metro.Lab bis zu 70 mm Tiefe messen.
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 Messung in einem tiefen Bohrloch |
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Oberflächenmessung in Produktionsumgebungen
Die Charakterisierung von Oberflächen durch geeignete Parameter ist seit Langem eine wichtige Methode in der Qualitätssicherung. Mit TopMap Weißlicht-Interferometern lassen sich kurze Prüfzeiten sehr gut realisieren. Die Messung selbst ist schnell und vollständig automatisiert, ebenso die Auswertung, Speicherung und Übermittlung des Ergebnisses an die Prozessleittechnik.
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 TopMap In.Line in der Produktion |
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Messung der Oberflächengüte von Festplattenkomponenten
Bei dem im Bild gezeigten Beispiel handelt es sich um ein mit Rillen versehenes Bauteil aus dem hydrodynamischen Lager einer Festplatte. Das TopMap Oberflächen-Messsystem bestimmt mit Nanometer-Genauigkeit die komplexe Topographie der gerillten Oberfläche. Die Qualitätsprüfung mit dem TopMap Weißlichtinterferometer hat sich bei dem Anwender bestens bewährt und erfüllt alle Anforderungen an die Messtechnik.
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 Topographie einer Festplattenkomponente |
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Topographieerfassung
Topographische Aufnahmen ermöglichen eine qualitative Charakterisierung von Bauteilen. Dabei kann es sich um kleine Bauteile aus der Halbleiterindustrie oder größere Bauteile aus dem Motorenbereich handeln. Alle Arten von Präzisionsoberflächen können mit dem TopMap nanometergenau erfasst und vermessen werden.
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 Topographie eines Laserchips |
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Welligkeit
Die Welligkeit von Bauteilen kann insbesondere bei optischen Komponenten kritisch sein. Zur Qualitätskontrolle kann die Welligkeit mit den Polytec Weißlichtinterferometern schnell vermessen werden und somit die Produktionsparameter schnell angepasst werden.
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 Welligkeit einer Plastikfolie |
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TopMap Applikationsnoten
Polytec Applikationsnoten informieren über den Einsatz der optischen Messsysteme von Polytec in unterschiedlichsten Anwendungsbereichen, von der Halbleiterindustrie, Datentechnik, über Mikrostruktur- und Sensortechnik bis zu Maschinenbau und Automobilindustrie. Die folgende Downloadseite enthält Applikationsnoten speziell für Einsatzgebiete der TopMap-Systeme.
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 Polytec Applikationsnote |
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Licht als Prüfwerkzeug: Weißlicht-Interferometrie zur Qualitätssicherung von Photovoltaik-Komponenten (Polytec-Fachartikel in Lasertechnik Journal Heft 1/2010, englisch)
