Weißlicht-Interferometer

Die TopMap-Topographie-Messsysteme von Polytec sind hochgenaue Weißlicht-Interferometer mit einer Auflösung im Nanometerbereich. Die berührungsfreie Messung von Topographien, Höhenabständen, Parallelität großer Flächen und Strukturen auch weicher Materialien sind daher ideale Anwendungen für die TopMap-Interferometer.

Der große vertikale Dynamikbereich erlaubt die Messungen von Ebenheiten, Welligkeiten und Parallelitäten auch unter schwierigen Bedingungen, beispielsweise in Bohrungen oder auf Werkstücken mit hohen Stufen. Ebenso können klassische Oberflächenparameter, bei denen bisher vornehmlich Tastsysteme verwendet werden, mit dem TopMap leicht erfasst werden.

Die TMS Software bietet Ihnen alle notwendigen Steuer- und Auswertefunktionen für die Weißlicht-Interferometer der TMS-Serie, LabView-Treiber für einfache Integration in bestehende Softwareumgebungen sowie ASCII-Exportfunktionen.

Der Bedarf an Oberflächenmessungen geht quer durch alle Branchen. Erfahren Sie mehr über die vielseitigen Anwendungen der Weißlicht-Interferometer.

TopMap Interferometer - Grundlagen, Anwendungen, Produkte - Übersichtsbroschüre

TMS-100 TopMap Metro.Lab

Als eine komplette Messstation ist der TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen geeignet. Die große vertikale Dynamik von 70 mm erlaubt die Messungen auch unter schwierigen Bedingungen bei 20 nm Auflösung. Ein sehr gutes Preis-/Leistungsverhältnis macht den Einsatz des TopMap Metro.Lab auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.

Merkmale | Tech. Daten | Datenblatt |

TopMap Metro.Lab

TMS-300/320 TopMap In.Line

Das TopMap In.Line lässt sich vielseitig in der Fertigungslinie montieren und misst vorgegebene Spezifikationen (Ebenheit, Topographie) innerhalb kurzer Taktzeiten. Die Messung selbst ist schnell und vollständig automatisiert. Die vertikale Auflösung beträgt wenige Nanometer und es sind je nach Aufgabenstellung unterschiedliche Messfelder von 4,2 mm x 5,5 mm bis zu 19 mm Querschnitt verfügbar.

Merkmale | Tech. Daten | Datenblatt |

TopMap In.Line

TMS-1200 TopMap μ.Lab

Das TopMap µ.Lab ist ein optisches Oberflächenmesssystem auf Basis der bewährten TopMap Interferometer-Technologie mit hoher lateraler Auflösung zu einem attraktivem Preis/Leistungsverhältnis. Einfach, schnell und nanometergenau erfasst das neue Messsystem die Topogaphie von Funktionsoberflächen und Mikrostrukturen zur Bestimmung abgeleiteter Parameter wie Ebenheit, Welligkeit und Rauheit.

Merkmale | Tech. Data | Download |

TopMap µ.Lab

TMS Software

Die bedienerfreundliche TMS Software stellt alle wichtigen Steuer- und Auswertefunktionen für Polytec Topographie-Messsysteme und das MSA-400 mit Topographie-Option zur Verfügung, inklusive der 2D-, 3D-, Isolinien- und Profildarstellung. Die offene Softwarearchitektur erlaubt auch das Programmieren von Routineaufgaben beispielsweise mittels Visual Basic® oder die Einrichtung einer eigenen Benutzeroberfläche.

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