Oberflächenmesstechnik

Oberflächenmesstechnik
Flächenhafte Ebenheits- und Topographieerfassung im Nanometerbereich

 

 

Die TopMap Topographie-Messsysteme von Polytec sind hochgenaue Weißlicht-Interferometer mit einem großen vertikalen Verfahrweg und einer Auflösung im Nanometerbereich.

Die berührungsfreie Messung von Ebenheiten, Höhenabständen, Parallelität großer Flächen und Strukturen auch weicher Materialien sind daher ideale Anwendungen für die TopMap Interferometer.

Der Bedarf an Oberflächenmessungen und Oberflächenmesstechnik geht quer durch alle Branchen. Komponenten und Strukturen vom μm- bis in den cm-Bereich finden sich beispielsweise in der Halbleiterindustrie
und Datentechnik, bei Mikrostrukturen und Sensoren, aber auch im Maschinenbau und Automotive-Sektor.

 TopMap Interferometer - Übersichtsbroschüre

Weißlicht-Interferometer

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