ST8000-MAP

Industrielles, vollautomatisiertes Messsystem mit kleinster Messfleckgröße und simultaner Multi-Spot Messmöglichkeit

  • Schnelle, einfache und berührungslose Messung
  • Probengrößen bis 370 x 470 mm
  • Messbereich: 1000 Å ~ 2,5 µm (bei Miniaturmessfleck)
  • Messfleckgröße: 0,2 x 0,2 µm

Your Contact

PV/Halbleiter
Ihr Produktspezialist

Tel. +49 7243 604-1740
hl@polytec.de