Mappende Desktop-Systeme

Mappende 4PP für 6" Solarzelle oder 8" Halbleiterwafer

Mappende 4PP für 6"-Solarzelle oder 8"-Halbleiterwafer

Weite Verbreitung finden die Desktop-Geräte der Serie 280. Computergesteuert, mit motorisiertem Tisch, können Sie die Schichtwiderstandsverteilung auf Wafern bis 200 mm Durchmesser oder Solarzellen bis 156 x 156 mm messen und in Kontur- bzw. 3D-Grafiken (Wafermaps) darstellen.

Mappende 4PP für 8" Solarzelle oder 12"Halbleiterwafer

Mappende 4PP für 8"-Solarzelle oder 12"-Halbleiterwafer

Diese Modelle sind für Wafer bis 300 mm Durchmesser bzw. Solarzellen bis 210 x 210 mm geeignet.

Photovoltaik-Erweiterungen

Photovoltaik-Erweiterungen

Die modifizierte 4PP kann, neben der klassischen Schichtwiderstandsbestimmung, den Leckstrom des P/N-Übergangs oder den Kontaktwiderstand der Metallisierung messen.

Ihr Kontakt

PV/Halbleiter
Ihr Produktspezialist

Tel. +49 7243 604-1740
hl@polytec.de