ST4080

Optisches Schichtdicken-Messsystem für raue, transparente Schichten, insbesondere für OSP-Schichten (Organic Solderability Preservative) im den Bereich der Leiterplattenproduktion.

Das ST4080 arbeitet nach einem neu entwickelten Verfahren und misst zahlreiche Punkte innerhalb eines Messflecks um die Oberflächenbeschaffenheit in einem 3D-Profil zu erfassen.

 

  • Wellenlängenbereich: 420 nm - 640 nm
  • Schichtdickenbereich: 35 nm - 3 µm (abhängig vom Messobjekt)
  • Minimale Spotgröße: 1,35 µm (5x),
    0,135 µm (50x)
  • Objektiv: 5x, 50x
  • Messbare Schichten: 1
  • Z-Achsen-Reproduzierbarkeit: +/- 1 µm
  • Probentischgröße: 200 x 200 mm
  • Automatische Z-Achse (optional):
    Fahrstrecke: 50 mm
    Fahrgeschwindigkeit: 50 mm/s
    Maße: 500 x 610 x 640 mm

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