Polytec erweitert das Produktportfolio zur Oberflächenmessung mit den Punktsensoren der TMS TopSens und TMS TopLine-Serien. Die Technologie der chromatisch konfokalen Sensoren erlaubt die schnelle Charakterisierung von Oberflächen und die Bestimmung der Mikro/Nanotopographie, optische Rauheitsbestimmungen und die Dickenmessung von transparenten Proben. Die Messköpfe enthalten keine bewegten Teile und sind daher robust und wartungsfrei. Durch die neuen Punktsensoren können Anwendungen im Bereich der Elektronik und Mikroelektronik, Halbleiter, Automotive und Mikromechanik sowie der optischen Industrie applikationsspezifisch von Polytec bedient werden.
Unsere neuen Punktsensoren für Oberflächenmessungen sind für eine Vielzahl von Anwendungen konfigurierbar.
Unsere Sensoren erfüllen die neue ISO 25178-Norm und können Rauheiten bis zu wenigen Nanometern messen. Rauheitsprofile lassen sich viel schneller als mit klassischen taktilen Sensoren und ohne Beeinflussung der Oberfläche erzeugen.
Das hochinnovative Messprinzip des chromatisch konfokalen Sensors erlaubt Dickenmessungen an transparenten Materialien mit extrem hoher Genauigkeit.
In Kombination mit 3D-Scannern ermöglichen die Punktsensoren 2D- und 3D-Messungen an komplexen Strukturen mit Submikron-Genauigkeit.
Dank des erweiterten Messbereichs sind die Sensoren ideal für die automatische Fokussierung in Bildverarbeitungssystemen geeignet.
Mit ihrer extrem hohen Messrate und einem durchdachten Schnittstellenkonzept lassen sich die optischen Sensoren einfach in den Fertigungsprozess oder eine vorhandene Prüfstation einbinden.