TopMap µ.Lab

TMS-1200 TopMap μ.Lab

Mit seiner hohen räumlichen Auflösung setzt das TMS-1200 TopMap μ.Lab Messmikroskop neue Maßstäbe in der berührungsfreien Topographiemessung. Einfach, schnell und nanometergenau erfasst es die Topogaphie von Funktionsoberflächen und Mikrostrukturen zur Bestimmung abgeleiteter Parameter, wie Ebenheit, Welligkeit und Rauheit. Es wurde speziell zur Charakterisierung der Mikrotopographie funktionaler Oberflächen und Mikrostrukturen in der Produktentwicklung und Qualitätskontrolle entwickelt. Topographien von Objekten, die größer als das Bildfeld sind, können durch Verschieben der Probe und Kombination der Messungen von mehreren Ausschnitten erzeugt werden (Stitching), wobei Verfahrwege bis 50 mm jeweils in x- und y-Richtung verfügbar sind.

  • Schnelle, berührungsfreie 3D-Topographieerfassung mit nanometergenauer Auflösung
  • Bestimmung der topographischen Strukturen auf rauen und spiegelnden Oberflächen
  • Messung auf stark kontrastierenden Oberflächen möglich durch Smart Surface Scanning-Technologie
  • Leistungsfähige TMS-Software zur Charakterisierung der Oberfläche
  • 2D- und 3D-Darstellung mit überlagertem Videobild