• Messen innerhalb kurzer Taktzeiten dank neuster, schneller Sensortechnik
  • Hochgenaue z-Auflösung von wenigen Nanometern
  • Hohe Wiederholpräzision: Toleranzen zuverlässig überprüfen
  • Robust und Wartungsarm
  • Kein Detail übersehen aufgrund flächiger Messdaten
  • Spiegelnde oder matte Oberflächen charakterisierbar
  • Berührungsloses Messprinzip: rückwirkungs- und zerstörungsfrei
  • Integrierte Schnittstelle zu bspw. hauseigenen Datenbanken und QS-STAT™