Oberflächenmesssysteme

Die von Polytec entwickelten TopMap Topographie-Messsysteme sind hochgenaue 3D-Profilometer zur Vermessung von 3D-Profilen von rauen, glatten und stufigen Oberflächen. Sie basieren auf dem Prinzip der Weißlicht-Interferometrie, auch kohärente/vertikale Scanning Interferometrie oder Kohärenzradar genannt. Mit einem großen vertikalen Verfahrweg und einer Auflösung im Nanometerbereich sind sie ideal für die berührungsfreie Messung von Ebenheiten, Höhenabständen, Parallelität großer Flächen und Strukturen auch weicher Materialien.

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