Die von Polytec entwickelten TopMap Topographie-Messsysteme sind hochgenaue 3D-Profilometer zur Vermessung von 3D-Profilen von rauen, glatten und stufigen Oberflächen. Sie basieren auf dem Prinzip der Weißlicht-Interferometrie, auch kohärente/vertikale Scanning Interferometrie oder Kohärenzradar genannt. Mit einem großen vertikalen Verfahrweg und einer Auflösung im Nanometerbereich sind sie ideal für die berührungsfreie Messung von Ebenheiten, Höhenabständen, Parallelität großer Flächen und Strukturen auch weicher Materialien.

TMS-100 TopMap Metro.Lab

Ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen bei sehr gutem Preis-/Leistungsverhältnis.

TMS-300 TopMap In.Line

Das ideale System für die präzise Vermessung von Oberflächen auch in anspruchsvollen Umgebungen, zum Beispiel in der Produktionskontrolle.

TMS-1200 TopMap µ.Lab

Ein System mit mikroskopischem Strahlengang zur Auflösung feinster lateraler Details auf Mikrostrukturen.

TopSens und TopLine Punktsensoren

Die neuen Punktsensoren für Oberflächenmessungen in einer Vielzahl von Anwendungen.

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