- Schwingungsmesssysteme
- Längen- und Geschwindigkeitssensoren
- Oberflächenmesssysteme
- Mikrosystem- & MEMS-Analyzer
- Dehnungs- und Spannungsmesssysteme
- Media & Substrate Characterization
- Spektrometer
- Kameras, Objektive u. Zubehör
- Beleuchtungssysteme
- Kamerasysteme und Software
- Laser und Zubehör
- Optische Strahlungsmessgeräte und Komponenten
- Elektro-Optische Testsysteme
- Optische Telekommunikation / LWL-Messgeräte
- Faseroptische Sensorsysteme
- PV- und Halbleiter-Messgeräte
- Schwingungen messen
- Länge und Geschwindigkeit messen
- Oberflächenprofile messen
- Prozessanalytik
- Industrielle Bildverarbeitung
- Hyperspectral Imaging
- Spektroskopie
- Lösungen rund um Laser
- Elektro-Optische Testsysteme
- Optische Telekommunikation
- Faseroptische Sensorik
- PV- und Halbleiter-Charakterisierung und Analyse
- Lösungen A-Z
| 
- Deutschland
- North America
- Japan
- United Kingdom
- France
- Europe
- Russia
- All other Regions
- Schwingungen messen
- Länge und Geschwindigkeit messen
- Oberflächenprofile messen
- Prozessanalytik
- Industrielle Bildverarbeitung
- Hyperspectral Imaging
- Spektroskopie
- Lösungen rund um Laser
- Elektro-Optische Testsysteme
- Optische Telekommunikation
- Faseroptische Sensorik
- PV- und Halbleiter-Charakterisierung und Analyse
- Lösungen A-Z
Das Polytec Photovoltaik- und Halbleiter-Messgeräteprogramm ermöglicht Messungen in folgenden Bereichen:
- Schicht-, Flächen- und spezifischer Widerstand
- Schichtdicke
- Leckstrom des PN-Übergangs von Solarzellen
- Schichtdicke optisch transparenter Objekte oder Filme
- Mechanische Spannungen u. Doppelbrechung in Glas, Silizium oder Kunststoffen
- Defekt-Erkennung in Silizium-Materialien
- CV/IV-Messungen an Silizium, Verbund-Halbleitern oder beispielsweise Kohlenstoff-Filmen
