Formparameter

Polytec ist weltweit führend in der Technologie, die Topographie großer Flächen nanometergenau optisch zu vermessen. Typische Aufgabenstellungen sind dabei Bestimmungen von Parallelität, Ebenheiten, Radien, Stufen, Winkeln und anderen Parametern. Die zu untersuchenden Flächen befinden sich häufig in tieferliegenden Bohrungen oder es besteht eine große Höhendifferenz zwischen den Flächen – eine leichte Aufgabe für Polytec-Systeme im Gegensatz zu anderen optischen Messmethoden, beispielsweise der kohärenten Interferometrie.

Erfassung der Topographie

In vielen Fällen soll die komplette Topographie eines Werkstücks oder Objekts geprüft werden, beispielsweise bei der hier gezeigten Komponente eines Stoßdämpfers oder bei anderen Präzisionswerkstücken in der Automobil-, Luft- und Raumfahrtindutrie oder in der Feinmechanik.

Keramikbauteile, Prägungen, Sicherheitsmerkmale, aber auch Tatbeweismittel in der Kriminalistik können mit Weißlicht-Interferometrienanometer genau analysiert werden. Auch die Anforderungen an die Verwölbung und Verwindung von Bauteilen, beispielsweise von Leiterplatten, werden infolge der abnehmenden Dimensionen immer größer.

Acquiring the Topography